ニュースリリース

2009.03.19

「粒子計測セミナー」を6月に開催 日本レーザー

●(株)ソフトプレスネットワーク

「粒子計測セミナー」を6月に開催 日本レーザー

このニュースリリースをtwitterでつぶやく

  日本レーザー株式会社(Japan Laser Corporation)では、粒度分布や粒子形状の評価にご関心のある方を対象に「粒子計測セミナー」を定期的に開催しているが、来たる2009年6月17日と2008年6月19日に次のような内容で、各々東京・大阪の会場で開催する発表した。
 それによると、同セミナーは装置の原理・特徴説明や測定のデモンストレーションをを通して、装置の基本操作だけでなく、具体的な測定ノウハウ、メンテナンス方法など今後の研究開発および粒度管理等の役立てられるセミナーになっているとのこと。

 日時概要は、次のとおり。

セミナー名【粒子形状・粒度分布測定 無料セミナー開催】

【日時/場所】
2009年6月17日(水) 13:30~17:00 (13:00より受付開始) @東京 日本レーザー本社3F
2008年6月19日(金) 13:30~17:00 (13:00より受付開始) @大阪 第二吉本ビルディング 貸会議室/B会議室

【セミナー内容】
1.製品紹介(原理、特長、測定データの利用法のご説明)
①「レーザー回折式粒度分布測定装置 HELOS&RODOS」 ㈱日本レーザー技術顧問 松野秀彦
粒度分布測定には、様々な種類の装置が市販され利用されていますが、測定原理・特徴を良く理解した上で、目的に応じた利用をすることが肝心です。本講義では現在主流のレーザー回折式の装置を中心に原理や特徴、測定における要点や評価方法についてわかりやすく解説します。
②「動的画像法粒度分布・形状評価装置 QICPIC」 Sympatec社 Dr. Ulrich Kesten (英語)
粉粒体評価の指標として、粒子径分布に加えて粒子の形状や分散状態の情報を得ることが非常に注目されてきています。本講義ではミクロンオーダー以上の粒子を対象に、画像式粒子計測装置QICPICの原理をはじめ、アプリケーション例を元に今後の応用可能性について解説します。

2.測定のデモンストレーション
レーザー回折式粒度分布測定装置 HELOS&RODOS
動的画像法粒度分布・形状評価装置 QICPIC

3.Q&Aセッション(通訳あり)
参加者からの質問項目に回答しながら実践形式で進めます。現在抱えている問題点や、導入に関する質問等があれば、お申込際にご記入の上、お申し込みください。

【備考】
[対象] 粒度分布測定、原理・方法、ならびに測定テクニックにご興味がある方
[定員] 15名
[参加費用] 無料

【講師】
・SYMPATEC社 Dr. Kesten (ゆっくりとした英語です。質問時のみ通訳がはいります。プレゼンテーション資料は日本語・英語の両方をご

用意しております。)
・㈱日本レーザー 技術顧問 松野 秀彦

お問合せ・お申し込:は直接メール・お電話。
担当: 粒子計測グループ 根本
TEL: 03-5285-0862
Eメール:helos@japanlaser.co.jp

*Sympatecとは
ドイツに本社を置くSympatec(シンパテック)社は粒度分布測定、並びに粒子形状評価技術に特化した粒子計測を専門とする世界トップメーカーです。乾式測定技術を中心に、世界のリーディングカンパニーとして粒度計測市場を一変させ、各国において目覚しい導入実績を築き、また、日本国内においても20年以上の経験と実績を誇ります。

キーワード検索

媒体(新聞社)リンク